PG Instruments UV-VIS T110+ i T112+ – spektrofotometry dwuwiązkowe
Seria spektrofotometrów T110+/ T112+ z technologią podwójnego monochromatora, która sprawia, że urządzenia te odnalazły swe zastosowanie w niemalże wszystkich obszarach spektroskopii UV-VIS.
Więcej informacjiSeria spektrofotometrów T110+/ T112+ z technologią podwójnego monochromatora, która sprawia, że urządzenia te odnalazły swe zastosowanie w niemalże wszystkich obszarach spektroskopii UV-VIS. Zastosowanie technologii Wi-Fi umożliwia bezprzewodową kontrolę nad aparatem i śledzenie pomiarów próbek. Innowacyjna konstrukcja optyczna zapewnia bardzo niskie rozproszenie światła (0,00004% T NaI, 220 nm), co umożliwia uzyskanie bardzo dużego zakresu fotometrycznego od -6,0 do + 6,0 Abs (T110+) oraz od -8 do 8 Abs (T112+).
Zastosowanie:
- Farmaceutyka,
- Materiałoznawstwo,
- Kontrola bezpieczeństwa żywności,
- Biotechnologia,
- Badania.
Zalety:
- System optyki w T110+/T112+ zapewnia wyjątkowo niski współczynnik rozproszenia
światła (? 0,00004 %T NaI, 220 nm), dzięki czemu możliwy jest szerszy zakres
pomiarowy; - Możliwość skonfigurowania urządzenia pod względem wymagań badanej próbki za
pomocą zmiennej szczeliny aby stale kontrolować rozdzielczość spektralną oraz
odpowiednio dostosować szerokość wiązki; - Precyzyjna dokładność długości fali jest zapewniona przez zintegrowaną lampę rtęciową
używaną do automatycznej korekcji odchylenia spektralnego; - Termostatowana komora pomiarowa;
- Możliwość podłączenia do PC za pomocą WiFi.
Specyfikacja:
Typ urządzenia | T110+ | T112+ |
Optyka | Podwójny monochromator lampa deuterowa – ultrafiolet lampa ksenonowa – światło widzialne lampa rtęciowa – kalibracja długości fali |
|
Szerokość szczeliny | 0.1 – 5 nm (płynna regulacja) | 0.1 – 5 nm (płynna regulacja) |
Komunikacja | USB/RS232C/WiFi | USB/RS232C/WiFi |
Zakres długości fal | 185 – 900 nm | 185 – 900 nm |
Dokładność długości fal | ±0.2 nm | ±0.2 nm |
Powtarzalność długości fal | poniżej 0,1 nm (lampa deuterowa) | poniżej 0,1 nm (lampa deuterowa) |
Zakres fotometryczny | -6 – 6 Abs | -8 – 8 Abs |
Dokładność fotometryczna | ±0,002 Abs (0-0.5A) ±0,003 Abs (0,5-1A) ±0,004 Abs (1 – 2 A) />±0,3% T (0-100%T) |
±0,002 Abs (0-0.5A) ±0,003 Abs (0,5-1A) ±0,004 Abs (1 – 2 A) />±0,3% T (0-100%T) |
Powtarzalność fotometryczna | ≤0,0004 Abs (0-0,5A) ≤0.0008 Abs (0,5-1A) ≤0.002 Abs (1 – 2A) ≤0.1% |
≤0,0004 Abs (0-0,5A) ≤0.0008 Abs (0,5-1A) ≤0.002 Abs (1 – 2A) ≤0.1% |
Płaskość linii bazowej | ±0,0008 Abs | ±0,0008 Abs |
Szum fotometryczny | 0% T – 0.01% 100% T – 0.1% |
0% T – 0.01% 100% T – 0.1% |