Spektrofotometr T75 (UV-VIS) firmy PG Instruments

Dwuwiązkowy spektrofotometr UV-VIS z zakresem długości fali 190 – 1100 nm ze stałą (T75) lub zmienną (T75+) szerokością szczeliny.

Dwuwiązkowy spektrofotometr UV-VIS z zakresem długości fali 190 – 1100 nm ze stałą (T75) lub zmienną (T75+) szerokością szczeliny. Urządzenie posiada wbudowany ekran dotykowy Windows Touch Screen Tablet z systemem operacyjnym Windows 8 lub 10. Tablet jest fabrycznie wyposażony w najnowszą wersję oprogramowania UVWin. T75 jest standardowo wyposażony w 8-komorowy automatyczny wymiennik kuwet.

Zastosowanie:

  • Żywność
  • Leki
  • Produkty rolnicze
  • Środowisko
  • Inne organiczne i biochemiczne aplikacje

Zalety:

  • Trójwymiarowa analiza spektrum
  • Pomiary kinetyczne
  • Analiza fotometryczna z wykorzystaniem wielu długości fali
  • Możliwość zapisu metodyk i danych
  • Eksport danych w wielu formatach, protokół GLP
  • Szybkość działania

Typ urządzenia

T75

T75+

Szerokość szczeliny

2 nm (stała)

Regulowana: 0.5, 1, 2, 5 nm

Tryb pracy

Ekran dotykowy Windows Touch Screen Tablet z systemem operacyjnym Windows 8 lub 10

Ekran dotykowy Windows Touch Screen Tablet z systemem operacyjnym Windows 8 lub 10

Software

UV/Win Software v 6.0 (wersja z pełnym protokołem GLP dostępna na życzenie

UV/Win Software v 6.0 (wersja z pełnym protokołem GLP dostępna na życzenie

Zakres długości fal

190-1100 nm

190-1100 nm

Dokładność długości fal

±0.3 nm (automatyczna korekcja)

±0.3 nm (automatyczna korekcja)

Powtarzalność długości fal

0,2 nm

0,2 nm

Światło rozproszone

<0,05%T (220 nm, Nal;340nm, NaNO2)

<0,05%T (220 nm, Nal;340nm, NaNO2)

Tryb fotometryczny

Transmitancja, absorbancja, energia

Transmitancja, absorbancja, energia

Zakres fotometryczny

-0,3 - 3 Abs

-0,3 - 3 Abs

Dokładność fotometryczna

±0,002Abs(0-0.5A)
±0,004Abs(0,5-1A)
±0,3%T(0-100%T)

±0,002Abs(0-0.5A)
±0,004Abs(0,5-1A)
±0,3%T(0-100%T)

Powtarzalność fotometryczna

0,001Abs(0-0,5A)
0,002Abs(0,5-1A)
0,15%T(0-100%T)

0,001Abs(0-0,5A)
0,002Abs(0,5-1A)
0,15%T(0-100%T)

Płaskość linii bazowej

±0,0015Abs(190-1100nm)

±0,0015Abs(190-1100nm)

Stabilność linii bazowej

0,0008Abs/h(500nm, 0Abs 2 nm
szerokość szczeliny po 2 godzinnym
rozgrzaniu systemu)

0,0008Abs/h(500nm, 0Abs 2 nm
szerokość szczeliny po 2 godzinnym
rozgrzaniu systemu)

Szum fotometryczny

±0,001Abs (500nm, 0Abs, 2nm szczelina spektralna)

±0,001Abs(500nm, 0Abs, 2nm szczelina spektralna)

file_download