Produkty dla przemysłu

Kategorie produktów

PG Instruments T80 i T80+ – dwuwiązkowe spektrofotometry UV-VIS

Seria T80 to wysokiej jakości spektrofotometry dwuwiązkowe dostępne ze stałą (2 nm) lub zmienną (0,5, 1, 2, 5 nm) szerokością szczeliny.

Więcej informacji
Dowiedz się więcej na temat tego produktu, skontaktuj się z nami:


Specjalistyczny spektrofotometr dwuwiązkowy z możliwością regulacji szerokości szczeliny spektralnej. Możliwość dokonywania analiz w następujących trybach: pomiar fotometryczny, skanowanie spektrum, pomiar kinetyki, pomiar ilościowy i analiza DNA/białka. Podłączony do PC daje wiele dodatkowych aplikacji; dostęp do baz danych, trójwymiarowe analizy spektrum, protokół GLP, szybkie analizy pozostałości pestycydów i inne analizy spośród puli zastosowań w ochronie środowiska.

Zastosowanie:

  • Żywność,
  • Leki,
  • Produkty rolnicze,
  • Środowisko,
  • Inne organiczne i biochemiczne aplikacje.

Zalety:

  • Stała (2 nm) lub zmienna (0,5, 1, 2, 5 nm) szerokość pasma widmowego;
  • Dostarczany z 8-komorowym automatycznym wymiennikiem i wstępnie ustawionymi lampami wolframowymi i deuterowymi;
  • Siatka holograficzna 1200 linii/mm;
  • Wysoki stopień automatyzacji;
  • Wiele opcjonalnych akcesoriów zwiększających wydajność aparatu;
  • Pomiar fotometryczny, skanowanie spektrum, pomiar kinetyki, pomiar ilościowy i analiza DNA/białka;
  • Prosta konserwacja.

Specyfikacja:

Typ urządzenia T80 T80+
Szerokość szczeliny 2 nm (stała) Regulowana: 0.5, 1, 2, 5 nm
Tryb pracy Samodzielny i z PC Samodzielny i z PC
Software MPU Software Platform/Spec UV software workstation MPU Software Platform/Spec UV software Workstation
Zakres długości fal 190-1100 nm 190-1100 nm
Dokładność długości fal ±0.3 nm (automatyczna korekcja) ±0.3 nm (automatyczna korekcja)
Powtarzalność długości fal 0,2 nm 0,2 nm
Światło rozproszone <0,12%T (220 nm, Nal;340nm, NaNO2) <0,12%T (220 nm, Nal;340nm, NaNO2)
Tryb fotometryczny Transmitancja, absorbancja, energia Transmitancja, absorbancja, energia
Zakres fotometryczny -0,3 – 3 Abs -0,3 – 3 Abs
Dokładność fotometryczna ±0,002Abs(0-0.5A)
±0,004Abs(0,5-1A)
±0,3%T(0-100%T)
±0,002Abs(0-0.5A)
±0,004Abs(0,5-1A)
±0,3%T(0-100%T)
Powtarzalność fotometryczna 0,001Abs(0-0,5A)
0,002Abs(0,5-1A)
0,15%T(0-100%T)
0,001Abs(0-0,5A)
0,002Abs(0,5-1A)
0,15%T(0-100%T)
Płaskość linii bazowej ±0,0015Abs(190-1100nm) ±0,0015Abs(190-1100nm)
Stabilność linii bazowej 0,0008Abs/h(500nm, 0Abs 2 nm
szerokość szczeliny po 2 godzinnym
rozgrzaniu systemu)
0,0008Abs/h(500nm, 0Abs 2 nm
szerokość szczeliny po 2 godzinnym
rozgrzaniu systemu)
Szum fotometryczny ±0,001Abs (500nm, 0Abs, 2nm szczelina spektralna) ±0,001Abs(500nm, 0Abs, 2nm szczelina spektralna)

Plik do pobrania:

T80 i T80+